skanovací elektronový mikroskop

skanovací elektronový mikroskop, rastrovací (řádkovací) mikroskop - mikroskop, v němž se využívá principu postupného studia objektu bod po bodu, řádka po řádce. Nejznámější jsou s. e. m. pracující s dopadajícími svazky elektronů, umožňující studium povrchu objektů; existují však i prozařovací (transmisní) s. e. m. Principu řádkování se využívá i v mikroskopii světelné.